多功能射線檢測儀型號：JB4060A

JB4060A 型射線檢測儀，適用于檢測α、β、γ 及χ射線。儀器采用進(jìn)口蓋革探測器，具有較高的探測效率；同一探頭能測量α、β、γ 及χ射線，是環(huán)境實(shí)驗(yàn)室、核醫(yī)學(xué)、分子生物學(xué)、放射化學(xué)、核原料運(yùn)輸、儲存和商檢等領(lǐng)域進(jìn)行α、β輻射表面污染檢測、γ及χ輻射劑量率檢測的理想儀器。該儀器采用單片機(jī)控制，大屏幕LCD 液晶顯示器，操作方便、顯示清晰，在光線不足環(huán)境下帶背光顯示。
多功能射線檢測儀
探測和測定表面污染程度

操作放射性核素時,檢測可能存在的放射性暴露量

調(diào)查環(huán)境放射性污染度

測定惰性氣體及其它低能放射性核素

建筑裝飾材料的定性放射性測定。

1.2. 特點(diǎn)

進(jìn)口高效率蓋革云母窗探測器，探測效率高

移動金屬屏可在β/γ混合場中用于區(qū)分β和γ 測量

便攜式設(shè)計(jì)，重量輕

單片機(jī)控制，軟件功能強(qiáng)

LCD液晶顯示，會話式操作界面

計(jì)數(shù)率顯示CPM、CPS、μSV/h

電池失效報(bào)警以及探頭故障報(bào)警功能

1.3. 主要技術(shù)指標(biāo)

計(jì)數(shù)范圍：1～106

劑 量 率：0.06～2500μSv/h（微希伏/小時）

顯示單位：CPM、CPS、μSv/h

靈 敏 度：α表面活度響應(yīng)>1.7s-1Bq-1cm2

β表面活度響應(yīng)>1.7s-1Bq-1cm2

γ≥500CPM/μSv·h-1（對137Cs）

探測器：鹵素-水淬式蓋革-彌勒計(jì)數(shù)管（進(jìn)口）。有效直徑：45mm；云母薄片密度：

1.5-2.0mg/cm2

儀器本底：每分鐘計(jì)數(shù)≤60CPM

相對基本誤差：≤15%

供電電源：2節(jié)1.5v普通5號電池，整機(jī)電流≤50mA

溫度范圍：-10℃~45℃

濕度范圍：相對濕度≤90%（40℃）

尺寸及重量：230×130×45（mm）、0.70(kg)

2.JB4060A 型射線檢測儀工作原理

該檢測儀采用進(jìn)口蓋革計(jì)數(shù)管具有相當(dāng)突出的優(yōu)點(diǎn)，氣體放大倍數(shù)高，入射射線只要產(chǎn)生一個離子對就能引起放電而被單片機(jī)記錄下來，通過液晶屏顯示出α、β的計(jì)數(shù)率或γ的劑量率。由于放射性測量受計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)漲落影響，測量時間越長測量精度越高。特別是測量低放射性水平時，建議用戶測量時間選擇60秒鐘以上。

產(chǎn)品名稱：Fluke1550B兆歐表 產(chǎn)品型號：Fluke1550B

【Fluke1550B】技術(shù)指標(biāo) 
測試電壓 250 V DC量程：200 kΩ 至 5 GΩ 
準(zhǔn)確度：5% 
量程：5 GΩ 至 50 GΩ 
準(zhǔn)確度：20% 

測試電壓 500 V 直流量程：200 kΩ 至 10 GΩ 
準(zhǔn)確度：5% 
量程：10 GΩ 至 100 GΩ 
準(zhǔn)確度：20% 

測試電壓1000 V 直流量程：200 kΩ 至 20 GΩ 
準(zhǔn)確度：5% 
量程：20 GΩ 至 200 GΩ 
準(zhǔn)確度： 

測試電壓 2500 V 直流量程：200 kΩ 至 50 GΩ 
準(zhǔn)確度：5% 
量程：50 GΩ 至 500 GΩ 
準(zhǔn)確度：20% 

測試電壓 5000 V 直流量程：200 kΩ 至 100 GΩ 
準(zhǔn)確度：5% 
量程：100 GΩ 至 1 TΩ 
準(zhǔn)確度：20% 

短路電流> 1 mA 且 < 2 mA 

柱狀圖量程：0 至 1 TΩ 

絕緣測試電壓準(zhǔn)確度：0% 至 10%，1 mA 負(fù)載電流時 

感應(yīng)交流電流抑制Z大：2 mA 

容性負(fù)載充電速率5 s/µF 

漏泄電流量程：1 nA 至 2 mA 
準(zhǔn)確度：±(5% + 2 nA) 

電容測量量程：0.01 µF 至 15.00 µF 
準(zhǔn)確度：±(15% rdg + 0.03 µF) 

實(shí)時電路指示器量程：30 V 至 600 V (AC/DC，50/60 Hz) 
準(zhǔn)確度：±(5% + 2V) 

定時器1 - 99 分鐘 
可調(diào)：1 分鐘增量 
指示：1 秒的分辨率 

斜波所選測試電壓的0% 到 100%，或者直接到破壞測試電壓